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無損檢測(cè)

槽楔彈性模量儀壁厚測(cè)量儀超聲波壁厚測(cè)量儀附著力測(cè)試儀槽楔塊對(duì)比敏感度計(jì) 校正板空化計(jì) 相控陣探傷儀超聲波空化儀針孔相機(jī) 測(cè)式儀 X射線管壓力指示膜激光膠片數(shù)字化儀 CR系統(tǒng) 原位雜交儀電暈相機(jī) 磁通門計(jì) 安檢套件安檢儀測(cè)試箱掃描儀換能器狹縫相機(jī) 磁導(dǎo)率儀輻射力天平

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WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡

產(chǎn)品型號(hào)：WEK35391-2017
更新時(shí)間：2026-03-18

簡要描述：WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡每個(gè)線對(duì)組由4塊規(guī)格尺寸相同的薄片平行排列構(gòu)成（薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開），兩側(cè)放置最厚薄片的2倍厚度的校準(zhǔn)塊，每組線對(duì)卡里面的金屬片組間隔為2.5mm

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產(chǎn)品詳情

WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡每個(gè)線對(duì)組由4塊規(guī)格尺寸相同的薄片平行排列構(gòu)成（薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開），兩側(cè)放置最厚薄片的2倍厚度的校準(zhǔn)塊，每組線對(duì)卡里面的金屬片組間隔為2.5mm。

WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡符合《GB/T 35391-2017無損檢測(cè) 工業(yè)計(jì)算機(jī)層析成像(CT)檢測(cè)用空間分辨力測(cè)試卡》要求

線對(duì)卡,按分辨力高低分為三種:

1)Ⅲ級(jí)線對(duì)卡

2)Ⅱ級(jí)線對(duì)卡

3)工級(jí)線對(duì)卡;

線對(duì)卡是用來測(cè)試工業(yè)CT系統(tǒng)空間分辨力的一種標(biāo)準(zhǔn)試件,它是由鋼、硅或其他由供需雙方商定的材料制作的薄片構(gòu)成的線對(duì)組,每個(gè)線對(duì)組由4塊規(guī)格尺寸相同的薄片平行排列構(gòu)成(薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開),兩側(cè)放置最厚薄片的2倍厚度的校準(zhǔn)塊,其三維結(jié)構(gòu)如圖1、正視圖如圖2所示。

WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡實(shí)物拍攝圖：

WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡實(shí)物圖

WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡參數(shù)規(guī)格：

每個(gè)線對(duì)組中的薄片厚度為T，相鄰片間隙寬度(金屬隔片厚度)也為 T。各種等級(jí)線對(duì)卡的薄片厚度 T 及其對(duì)應(yīng)的線對(duì)數(shù)見表 A.1。

等級(jí)	第1組		第2組		第3組		第4組		第5組
	片厚T mm	線對(duì)數(shù) Lp/mm	片厚T mm	線對(duì)數(shù) Lp/mm	片厚T mm	線對(duì)數(shù) Lp/mm	片厚T mm	線對(duì)數(shù) Lp/mm	片厚T mm	線對(duì)數(shù) Lp/mm
Ⅲ級(jí)	0.100	5.0	0.125	4.0	0.150	3.3	0.200	2.5	0.250	2.0
Ⅱ級(jí)	0.150	3.3	0.200	2.5	0.250	2.0	0.300	1.7	0.500	1.0
Ⅰ級(jí)	0.250	2.0	0.300	1.7	0.500	1.0	0.650	0.8	1.000	0.5

每個(gè)線對(duì)組中的薄片長度L 為10mm，寬度W為8mm。

外型尺寸長(L)，寬(W)，高(H)，單位：mm。

圖片
等級(jí)	Ⅰ級(jí)	Ⅱ級(jí)	Ⅲ級(jí)
線對(duì)	0.5至2.0LP/m	1.0至3.3LP/m	2.0至5.0LP/m
尺寸（mm）	45Lx26Wx20H	33Lx26Wx20H	30Lx26Wx20H

圓孔卡或細(xì)絲卡,按孔徑或絲徑大小分為兩種:

1)Ⅱ級(jí)圓孔卡或Ⅱ級(jí)細(xì)絲卡

2)工級(jí)圓孔卡或I級(jí)細(xì)絲卡;

WEK35391-2017圓盤卡

圓孔卡是在均質(zhì)圓柱形基體上,加工一系列直徑不同的圓形孔,圓孔按行有序排列,其結(jié)構(gòu)如圖3所示。細(xì)絲卡是在均勻低密度圓柱形基體上,排列一系列直徑不同的細(xì)絲,細(xì)絲按行有序排列。
圓盤卡是由均質(zhì)的剛性材料制作的圓柱體,其結(jié)構(gòu)如下圖所示。圓盤卡材質(zhì)應(yīng)與被檢測(cè)物體的射線吸收特性相同或相近,推薦使用鋼或硅(或由供需雙方商定的材料制作)。
WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡

GBT35386-2017空氣間隙試塊

空氣間隙試塊是在均質(zhì)剛性基體材料[一般為鋼(例如 Q235)、鋁(如 3003)、聚丙烯]中人工制造一定直徑和高度的空氣間隙，使得切片厚度內(nèi)的局部平均密度發(fā)生變化，從而測(cè)試密度分辨力。其基本結(jié)構(gòu)如圖 A.5所示。

基體是由兩個(gè)高密度圓柱體組成，高度在15mm以上。凹槽直徑φ不小于20mm圓柱體直徑可根據(jù)實(shí)際情況規(guī)定，一般不小于 3φ，凹槽深度 h根據(jù)切片厚度 .和實(shí)際情況確定。

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WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡

WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡符合《GB/T 35391-2017無損檢測(cè) 工業(yè)計(jì)算機(jī)層析成像(CT)檢測(cè)用空間分辨力測(cè)試卡》要求

線對(duì)卡,按分辨力高低分為三種:

WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡實(shí)物拍攝圖：

WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡參數(shù)規(guī)格：

圓孔卡或細(xì)絲卡,按孔徑或絲徑大小分為兩種:

WEK35391-2017圓盤卡

GBT35386-2017空氣間隙試塊

基體是由兩個(gè)高密度圓柱體組成，高度在15mm以上。凹槽直徑φ不小于20mm圓柱體直徑可根據(jù)實(shí)際情況規(guī)定，一般不小于 3φ，凹槽深度 h根據(jù)切片厚度 .和實(shí)際情況確定。

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基體是由兩個(gè)高密度圓柱體組成，高度在15mm以上。凹槽直徑φ不小于20mm圓柱體直徑可根據(jù)實(shí)際情況規(guī)定，一般不小于 3φ，凹槽深度 h根據(jù)切片厚度 .和實(shí)際情況確定。